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精密測(cè)試探針英文名Test probe，是精密電測(cè)試過(guò)程中必不可少的部件。
在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過(guò)程中，經(jīng)常需要對(duì)信號(hào)的通斷以及質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試分析，這個(gè)時(shí)候就需要使用精密測(cè)試探針將信號(hào)無(wú)損的接取出來(lái)提供給相應(yīng)的ICT或者測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行整合分析。
|
相關(guān)參數(shù) |
規(guī)格 |
公差 |
材料種類(lèi)（可選） |
|
直徑 |
0.070-2.0 (mm) |
±0.020mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
|
總長(zhǎng)度 |
30.0-80.0 (mm) |
±0.10mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
|
針錐角度 |
8°— 35° |
±1° |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
|
針錐長(zhǎng)度 |
2.0-5.0(mm) |
±0.20mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
|
針角R角 |
0.007-0.075(mm) |
±0.003mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
精密測(cè)試探針英文名Test probe，是精密電測(cè)試過(guò)程中必不可少的部件。
在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過(guò)程中，經(jīng)常需要對(duì)信號(hào)的通斷以及質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試分析，這個(gè)時(shí)候就需要使用精密測(cè)試探針將信號(hào)無(wú)損的接取出來(lái)提供給相應(yīng)的ICT或者測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行整合分析。
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相關(guān)參數(shù) |
規(guī)格 |
公差 |
材料種類(lèi)（可選） |
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直徑 |
0.070-2.0 (mm) |
±0.020mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
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總長(zhǎng)度 |
30.0-80.0 (mm) |
±0.10mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
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針錐角度 |
8°— 35° |
±1° |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
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針錐長(zhǎng)度 |
2.0-5.0(mm) |
±0.20mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
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針角R角 |
0.007-0.075(mm) |
±0.003mm |
鎢錸、鎢、鈹銅、P7 |
